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探針冷熱臺(tái),果果儀器 CH600S-XY地質(zhì)冷熱臺(tái)是為地質(zhì)領(lǐng)域設(shè)計(jì)的。用來幫助我們更好地了解我們的星球及其地質(zhì)。該產(chǎn)品可幫助科研人員研究封存在礦物中的古流體和熔體（即流體包裹體和熔體包裹體）以及礦物晶格揮發(fā)元素，獲得成巖與成礦過程的溫度-壓力條件、流體化學(xué)成分組成、流體來源與演化等信息。

冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)、電學(xué)、力學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可實(shí)現(xiàn)從-190～600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)快速致冷或加熱，進(jìn)行高精度控溫，與其他儀器設(shè)備適配，形成光學(xué)、電學(xué)、力學(xué)等的原位測(cè)試系統(tǒng)。

顯微鏡冷熱臺(tái),掃描電鏡冷熱臺(tái)是一種安裝在掃描電鏡（SEM）上研究樣品原位變溫顯微結(jié)構(gòu)的附件 （ 無需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)）。通過定制外接法蘭裝置 ， 操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫度。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~200℃（選型）或RT~1500℃（選型）的變溫環(huán)境。

冷熱臺(tái),H600S光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。

光學(xué)冷熱臺(tái) CH600S是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。

果果儀器XRD冷熱臺(tái),mini熱臺(tái)是一款針對(duì)樣品變溫測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可進(jìn)行光學(xué)、電學(xué)測(cè)試。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~200℃范圍內(nèi)控溫，與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。